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        鍍膜測試儀

        更新時間:2023-10-09

        熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

         

        鍍膜測試儀特點:

        中文視窗操作測量系統
        解析度0.001um, 小測量面積0.1mmΦ
        可測量合金層之厚度和組成比例
        可測量兩層以上鍍層之個別厚度
        藉由光譜分析可判定被測物之元素
        適用對象:1C導線架,封裝業、PCB業、精密零
        件業、電鍍業、電子業。

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

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